Дозволяє створювати панорамні зображення за допомогою ручного управління столиком мікроскопа. Керуюча програма SIAMS обробляє великі обсяги графічних даних і аналізує мікроструктуру відповідно до російськими та зарубіжними стандартами в реальному часі. Можливий дистанційний доступ до робочого місця через мережу.

Виробники мікроскопів: Olympus, Leica, Nikon, Zeiss, Meiji, SIAMS і ін.
Типи: прямий, інвертований або стереомикроскоп.
Методи дослідження в прохідному і відбитому світлі: світле поле, темне поле, поляризація, ДІК.

До мікроскопу підключається обчислювальна станція з пакетом програмного забезпечення SIAMS 800 для панорамної зйомки. Панорамна зйомка супроводжується автоматичною корекцією нерівномірності освітленості і обчисленням об'єктів вимірювання, що дозволяє попередньо оцінити структуру без застосування спеціальних методик аналізу.
SIAMS 800 дозволяє будувати якісні панорамні зображення шляхом сканування без захоплення окремих кадрів, завдяки безперервному аналізу відеосигналу. Це дозволяє виключити дефекти, властиві традиційним панорамним зображенням, що призводять до помилок в оцінці структурних складових.
дізнатись детальніше

Спеціальне програмне забезпечення для автоматизованого аналізу мікроструктури відповідно до стандартів ГОСТ, ASTM, EN, DIN, ISO та ін.
дізнатись детальніше

Система панорамної мікроскопії SIAMS - надійне і точне засіб вимірювання. Прилад є вивіреним засобом вимірювання затвердженого типу і включений до держреєстру засобів вимірювань за №27438-10 як «Аналізатор фрагментів мікроструктури твердих тіл» (Свідоцтво RU.C.31.058.A № 40862. Відповідає ТУ 4317-001-12285114-2004).

Проводиться прецизійна градуювання приладу за допомогою вбудованого програмного модуля, який:

• виробляє автоматичний розрахунок розміру пікселя в горизонтальному і вертикальному напрямках не менш, ніж за 20 вимірам для кожного фіксованого стану системи введення;
• виробляє автоматичний розрахунок похибки процедур градуювання і повірки та автоматичний контроль розрахункового значення похибки;
• формує і зберігає протокол за проведеними процедурами;
• автоматично зберігає список масштабів і захищає його від випадкового зміни.

• Системи панорамної мікроскопії для металографічного аналізу. Кадушніков Р.М., Козерчук А.Л., Петров М.С., Рябков М.С., Сівкова Т.А., сомина С.В., Сироп'ятов А.С., Рижков М.А .// Металургія машинобудування 2016 №3
• Особливості контролю мікроструктури графіту в чавунах автоматичними методами. Сівкова Т.А., Гусєв А.О., Губарєв С.В., Самойлова А.Ю., Кадушніков Р.М .// Металургія машинобудування 2018 №2

Якщо ви хочете купити систему панорамної мікроскопії SIAMS MT, зв'яжіться з фахівцями компанії SIAMS: [email protected] .